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JH-I-5薄膜热物性测试仪

更新时间:2019-12-11

简要描述:

JH-I-5薄膜热物性测试仪该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时,同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同,因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦(或正弦)规律变化时的瞬态实验模型。

JH-I-5薄膜热物性测试仪

  JH-I-5薄膜热物性测试仪该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时,同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同,因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦(或正弦)规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数,由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下,当温度振荡频率达到一定值后,利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。

JH-I-5薄膜热物性测试仪主要技术参数:

1.导热系数范围:0.05~20w/m·k

2.仪器实现数字化测温,精度优于0.2级。

3.测量结果,准确度 ±3%

4.计量加热功率可调节±1%。

5.试样尺寸要求:圆柱体¢15--30*5--30mm .

6.温度和保护气氛按用户要求定制。

7.配接计算机实现全自动测试分析。

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